三次元測(cè)量?jī)x作為一個(gè)平穩(wěn)的檢測(cè)設(shè)備，我們更習(xí)慣于坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的三次元測(cè)量?jī)x，這是因?yàn)槿S測(cè)量?jī)x器在測(cè)量工件的過(guò)程中，主要通過(guò)建立坐標(biāo)系來(lái)完成測(cè)量任務(wù)，所以我們也把它稱為坐標(biāo)。

建立三維儀表坐標(biāo)系時(shí)，如何確定坐標(biāo)系的正確性？有什么具體的方法來(lái)檢查CMM坐標(biāo)系的正確性嗎？在這里，我將簡(jiǎn)單介紹一下。

       檢查三次元測(cè)量?jī)x坐標(biāo)系的正確性的方法是將軟件顯示坐標(biāo)置于“零件坐標(biāo)系”模式，并使用操縱桿來(lái)控制測(cè)量機(jī)的運(yùn)動(dòng)，使寶石球盡可能靠近坐標(biāo)系零點(diǎn)，觀察顯示的坐標(biāo)，然后根據(jù)測(cè)量機(jī)軸的運(yùn)動(dòng)方向，觀察相應(yīng)變化的坐標(biāo)，如果偏差較大或較大，相反的方向，有必要找出原因，重新建立三個(gè)元米坐標(biāo)系

用三個(gè)參考球可以將模具的參考坐標(biāo)系保持下來(lái)

       三個(gè)參考球的平面用于構(gòu)造一個(gè)平面，其中兩個(gè)用于建立與球體中心之一的零件坐標(biāo)系。

2.坐標(biāo)系坐標(biāo)系中參考單元之間的測(cè)量?？梢酝ㄟ^(guò)各種方法獲得參考元件與當(dāng)前零件坐標(biāo)系之間的關(guān)系（軸與原點(diǎn)之間的距離）。

3，獲得三次元測(cè)量?jī)x的兩個(gè)坐標(biāo)系之間的差異。在建立了三個(gè)參考球體結(jié)構(gòu)的坐標(biāo)系后，通過(guò)將原點(diǎn)平移到一定距離，可以將兩個(gè)軸的坐標(biāo)的旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)換為參考坐標(biāo)系

三維測(cè)量?jī)x器的坐標(biāo)系在檢測(cè)坐標(biāo)方面起著重要的作用，所以我們必須非常小心坐標(biāo)系的建立，從而更好地完成三維測(cè)量任務(wù)。

第二維圖像測(cè)量?jī)x和三維儀表的差異與選擇

       二次元圖像測(cè)量?jī)x器是等離子體光學(xué)非接觸測(cè)量，是二維測(cè)量。用于平面尺寸的測(cè)量，而大多數(shù)三維測(cè)量?jī)x器都是接觸式測(cè)量，可以測(cè)量三維數(shù)據(jù)的尺寸也可以進(jìn)行高度的測(cè)量。

       對(duì)于兩者的選擇，可根據(jù)測(cè)量要求選擇。沖擊測(cè)量?jī)x采用非接觸式測(cè)量，采用冷光源系統(tǒng)，避免焊接變形引起的熱變形引起的可檢測(cè)橡膠，軟塑料等部件的磨損，工件自由地點(diǎn)。三維坐標(biāo)可以從表面三角形，可選的接觸式或非接觸式探頭進(jìn)行連續(xù)掃描?，F(xiàn)在市場(chǎng)需求越來(lái)越集成，既需要立體尺寸數(shù)據(jù)，還有光度測(cè)儀表呢？