隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCR Meter等等。下面賢集網(wǎng)小編簡單介紹下LCR測試儀原理、作用、使用注意事項。

數(shù)字電橋(卷名：電工)英文名：digital bridge

采用數(shù)字技術(shù)測量阻抗參數(shù)的電橋。數(shù)字技術(shù)是將傳統(tǒng)的模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，再進行數(shù)字運算、傳遞和處理等。

1972年，國際上首次出現(xiàn)帶微處理器的數(shù)字電容電橋，它將模擬電路、數(shù)字電路與計算機技術(shù)結(jié)合在一起，為阻抗測量儀器開辟了一條新路。

LCR測試儀原理

數(shù)字電橋的測量對象為阻抗元件的參數(shù)，包括交流電阻R、電感L及其品質(zhì)因數(shù)Q，電容C及其損耗因數(shù)D。因此，又常稱數(shù)字電橋為數(shù)字式LCR測量儀。其測量用頻率自工頻到約100千赫?；緶y量誤差為0.02%，一般均在0.1%左右。

數(shù)字電橋原理如圖所示。圖中DUT為被測件，其阻抗用Zx表示，Rr為標(biāo)準(zhǔn)電阻器。切換開關(guān)可分別測出兩者的電壓Ux與Ur，于是有下式：

平衡式電橋測試原理

平衡式電橋測試原理

Zx=Ux/Ix=Rr*Ux/Ur

此式為一相量關(guān)系式。如使用相敏檢波器(PSD)分別測出Ux和Ur對應(yīng)于某一參考相量的同相量分量和正交分量，然后經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)器將其轉(zhuǎn)化為數(shù)字量，再由計算機進行復(fù)數(shù)運算，即可得到組成被測阻抗Zx的電阻值與電抗值。[2]

從圖中的線路及工作原理可見，數(shù)字電橋只是繼承了電橋傳統(tǒng)的稱呼。實際上它已失去傳統(tǒng)經(jīng)典交流電橋的組成形式，而是在更高的水平上回到以歐姆定律為基礎(chǔ)的測量阻抗的電流表、電壓表的線路和原理中。

LCR測試儀的作用

數(shù)字電橋可用于計量測試部門對阻抗量具的檢定與傳遞，以及在一般部門中對阻抗元件的常規(guī)測量。很多數(shù)字電橋帶有標(biāo)準(zhǔn)接口，可根據(jù)被測值的準(zhǔn)確度對被測元件進行自動分檔；也可直接連接到自動測試系統(tǒng)，用于元件生產(chǎn)線上對產(chǎn)品自動檢驗，以實現(xiàn)生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制。80年代中期，通用的誤差低于0.1%的數(shù)字電橋有幾十種。數(shù)字電橋正向著更高準(zhǔn)確度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。

電容C，電感L，電阻R是電子工程師在產(chǎn)品設(shè)計中最常用的電子元器件。作為常見的小小的被動器件，確影響著電路的參數(shù)，也直接牽扯的電子產(chǎn)品的優(yōu)劣。所以對于每個元器件（電容/電感/電阻），我們要了解其特性參數(shù)，也需要時刻準(zhǔn)確測量到這些參數(shù)。

LCR測試儀就是用來測試元器件（電容/電感/電阻）參數(shù)的。在一般情況下，電阻只要測量其直流電阻值就可以了，這樣可以使用萬用表（例GDM-8261A）或者電阻測試儀（例GOM-802），另外固緯電子LCR-8000G系列也具有直流電阻測量功能。與普通電阻不同，對于電感和電容，就需要采用交流方式來測量。LCR測試儀就是采用交流電進行測量。對于交流電而言，電壓V與電流I的比值是阻抗Z，直流方式下的電阻R只需用‘大小’來表示，而阻抗Z確包含了‘大小’和‘相位’兩個要素，在數(shù)學(xué)上用復(fù)數(shù)和矢量來表示。

LCR測試儀使用注意事項

1．選擇正確的測試條件。元器件廠商給出的器件參數(shù)值所代表的是在規(guī)定的測量條件下能達(dá)到的性能，以及允許出現(xiàn)的偏差值。下圖為部分品牌的電容與頻率的特性曲線。

我們可以看到在不同的測試頻率下，電容的參數(shù)出現(xiàn)非線性的變化，所以我們對于測量某元器件時候，一定要選擇合適的測量頻率以及測量電壓，另外對于某些器件可能還需要設(shè)置偏置電壓等測試條件。對于需要觀測器件的頻率特性，固緯電子LCR-8000G系列具有頻率掃描測量模式，能直觀的觀測不同頻率情況下器件的參數(shù)變化，這點對于研發(fā)測試中能給工程師帶來便利。

2．選擇合適測量治具。測量治具也是LCR測試儀的重要組成部分，對于封裝方式多樣化的元器件，LCR也有多種測量治具選擇。以下為固緯LCR測試治具以及測量范圍。合適的測量治具不僅帶來測量的便捷，更是測量準(zhǔn)確性的保證。

3．正確的零點校正。LCR測試儀的零點漂移會隨著測試條件的變換或者是測試治具的不同而產(chǎn)生改變，所以開路以及短路的零點校正非常必要。所以LCR測試儀都有開路和短路校正的設(shè)置。