影像測量儀
光學(xué)儀器國家標(biāo)準(zhǔn)
1 GB/T 779-1989 光學(xué)計 Optimeter
2 GB/T 1146-1989 水準(zhǔn)泡 Level
3 GB/T 1185-1989 光學(xué)零件表面疵病 Surface imperfections of optical elements
4 GB/T 1204-1975 光學(xué)零件的倒角 Chamfers for optical parts
5 GB/T 1205-1975 透鏡邊緣及中心最小厚度 Minimum thicknesses in rim and centre of lens
6 GB/T 1240-1976 光學(xué)樣板 Photo-templates gauge
7 GB/T 1315-1977 光學(xué)零件薄膜的分類、符號及標(biāo)注 Thin-film coatings on optical parts--Classification, symbols and designations
8 GB/T 2609-1996 顯微鏡 物鏡 Microscopes--Objectives
9 GB/T 2831-1981 光學(xué)零件的面形偏差 檢驗方法 (光圈識別) Surface form deviation of optical elements--Inspection methods
10 GB/T 2985-1991 生物顯微鏡 Biological microscope
11 GB/T 3158-1982 光學(xué)零件球面半徑數(shù)值系列 Radii of spherical surfaces of optical elements series of numerical values
12 GB/T 3161-1991 光學(xué)經(jīng)緯儀系列及其基本參數(shù) The series of optical theodolites and its basic parameters
13 GB/T 3371-1995 光學(xué)分度頭 Optical dividing head
14 GB/T 3718-1988 萬能測長儀 Universal horizontal metroscope
15 GB/T 3719-1988 工具顯微鏡 Toolmaker's microscope
16 GB/T 3720-1988 光學(xué)長度計量儀器 基本參數(shù) Optical length measuring instruments--Basic parameters
17 GB/T 4315.1-1984 光學(xué)傳遞函數(shù) 術(shù)語、符號 Optical transfer function--Terminology, symbol
18 GB/T 4315.2-1988 光學(xué)傳遞函數(shù) 測量導(dǎo)則 Optical transfer function--Directives of measurement
19 GB/T 4930-1993 電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件 General specification of electron probe microanalysis standard specimen
20 GB/T 6360-1995 激光功率能量測試儀器規(guī)范 Specification for laser radiation power and energy measuring equipment
21 GB/T 7242-1987 透鏡中心誤差 Centering errors of lenses
22 GB 7247-1995 激光產(chǎn)品的輻射安全、設(shè)備分類、要求和用戶指南 Radiation safety of laser products,equipment classificon,requirements and user's guide
23 GB/T 7660.1-1987 反射棱鏡 光軸、光軸長度、光軸截面與光學(xué)平行度 Reflecting prisms--Optical axis, length of opticalaxis, axial section and optical parallelism
24 GB/T 7660.2-1987 反射棱鏡 分類、代號與圖表 Reflecting prisms--Classification code name and chart
25 GB/T 7660.3-1987 反射棱鏡 像偏轉(zhuǎn)特性 Reflecting prisms--Characteritics of image rotation
26 GB/T 7661-1987 光學(xué)零件氣泡度 Bubble classes for optical elements
27 GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量 The dose of X-ray leakage from electron microscope
28 GB/T 9246-1996 顯微鏡 目鏡 Microscopes--Oculars (eyepieces)
29 GB/T 9247-1996 顯微鏡 聚光鏡 Microscopes--Condensers
30 GB/T 10049-1988 光學(xué)徑緯儀 技術(shù)條件 Specifications for optical theodolite
31 GB/T 10050-1988 光學(xué)和光學(xué)儀器 參考波長 Optics and optical instruments--Reference wavelengths
32 GB/T 10155-1988 體視顯微鏡 Stereomicroscope
33 GB/T 10248-1988 氣體分析 校準(zhǔn)用混合氣體的制備 靜態(tài)體積法 Gas analysis--Preparation of calibration gas mixtures-Static volumetric methods
34 GB/T 10987-1989 光學(xué)系統(tǒng) 參數(shù)的測定 Optical systems—Determination of parameters
35 GB/T 10988-1989 光學(xué)系統(tǒng)雜(散)光測量方法 Veiling glare of optical systems—Methods of measurement
36 GB/T 11168-1989 光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)測試方法 Image quality of optical systems—Method of determination
37 GB/T 12085.1-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 術(shù)語、試驗范圍 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Definitions, extent of testing
38 GB/T 12085.2-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 低溫、高溫、濕熱 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Cold, heat, humidity
39 GB/T 12085.3-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 機械作用力 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Mechanical stresses
40 GB/T 12085.4-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 鹽霧 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Salt mist
41 GB/T 12085.5-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 綜合低溫、低氣壓 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Combined cold low air pressure
42 GB/T 12085.6-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 砂塵 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Dust
43 GB/T 12085.7-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 淋雨 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Rain
44 GB/T 12085.8-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 高壓、低壓、浸沒 Optics and optical instruments—Environmental test methods—High pressure, low pressure, immersion
45 GB/T 12085.9-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 太陽輻射 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Solar radiation
46 GB/T 12085.10-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 綜合振動(正弦)與高溫、低溫 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Combined sinusoidal vibration, dry heat, cold
47 GB/T 12085.11-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 長霉 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Mould growth
48 GB/T 12085.12-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 污染 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Contamination
49 GB/T 12085.13-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Shock, bump or freefall, dry heat, cold
50 GB/T 12085.14-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法 露、霜、冰 Optics and optical instruments—Environmental test methods—Dew, hoarfrost, ice
51 GB/T 12085.15-1995 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 寬帶隨機振動(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗 Optics and optical instruments--Environmental test methods--Combined random vibration wideband--Reproducibility medium, in dry heat or cold
52 GB/T 12085.16-1995 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗 Optics and optical instruments--Environmental test methods--Combined bounce or steady state acceleration,in dry heat or cold
53 GB/T 12085.17-1995 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 污染與太陽輻射綜合試驗 Optics and optical instruments--Environmental test methods--Combined contamination, solar radiation
54 GB/T 12748-1991 光學(xué)經(jīng)緯儀試驗方法 Method of test for optical theodolites
55 GB/T 13323-1991 光學(xué)制圖 Optical drawings
56 GB/T 13605-1992 坐標(biāo)展點儀 Coordinatograph
57 GB/T 13742-1992 光學(xué)傳遞函數(shù)測量準(zhǔn)確度 Optical transer function--accuracy of measurement
58 GB/T 13991-1992 立體坐標(biāo)量測儀 Stereocomparator
59 GB/T 14075-1993 光纖色散測試儀技術(shù)條件 Specifications for optical fiber chromatic dispersion measuring set
60 GB/T 14267-1993 短程光電測距儀 Short range electro-optic distance-measuring instrument
61 GB/T 15074-1994 電子探針定量分析方法通則 General guide for EPMA quantitative analysis
62 GB/T 15075-1994 電子探針分析儀的檢測方法 Method for testing EPMA instrument
63 GB/T 15244-1994 玻璃的電子探針定量分析方法 Quantitative analysis method of electron probe on glasses
64 GB/T 15245-1994 稀土氧化物的電子探針定量分析方法 Standard method for quantitative electorn probe microanalysis of ree oxides
65 GB/T 15246-1994 硫化物礦物的電子探針定量分析方法 Standard method for electron probe microanalysis of sulfide minerals
66 GB/T 15247-1994 碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法 靈敏度曲線法(檢量線法) Electron probe quantitative analysis method of carbon in carbon steel and low alloy steel--Sensitivity curve method (detection limit method)
67 GB/T 15616-1995 金屬及合金的電子探針定量分析方法 Quantitative method for electron probe microanalysis of metals and alloys
68 GB/T 15617-1995 硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法 Qantitative analysis method for silicate minerals by EPMA
69 GB/T 16492-1996 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境要求 總則、定義、氣候帶及其參數(shù) Optics and optical instruments--Environmental requirements--General information, definitions, climatic zones and their parameters
70 GB/T 17117-1997 棱鏡式雙目望遠鏡 Prism binoculars
71 GB/T 17118-1997 伽俐略式雙目望遠鏡 Galilean binoculars
72 GB/T 10156-1997 水準(zhǔn)儀 Leve ller
73 GB 17341-1998 光學(xué)和光學(xué)儀器 焦度計 Optics and optical instruments--Focimeters
74 GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則 General specification of X-ray EDS Quantitative analysis for EPMA and SEM
75 GB/T 17360-1998 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法 Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels
76 GB/T 17361-1998 沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑒定方法 Identification method of authigenic clay mineral in sedimentary rock by SEM & XEDS
77 GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法 Nondestructive method of X-ray EDS Analysis with SEM for gold jewelry
78 GB/T 17363-1998 黃金制品的電子探針定量測定方法 Method of quantitative electron probe microanalysis on gold products
79 GB/T 17364-1998 黃金制品中金含量的無損定量分析方法 Non-damage quantitative analysis of gold content in gold products
80 GB/T 17365-1998 金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法 Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis
81 GB/T 17366-1998 礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法 Methods of mineral and rock specimen preparation for EPMA
82 GB/T 17506-1998 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法 The method of electron probe micro Analysis as corrosive layer on ferrous metals of ship
83 GB/T 17507-1998 電子顯微鏡 X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件 General specification of thin biological standards for X-Ray EDS microanalysis in electron microscope
84 GB/T 17722-1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法 Gold-plated thickness measurement by SEM
85 GB/T 17723-1999 黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法 Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
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