近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

X熒光光譜儀606系列ROHS無(wú)鹵分析儀用于快速測(cè)量分析儀電子電機(jī)產(chǎn)品中如Cd/Pb/Hg等有害物質(zhì)含量的儀器，具有輕便、操作簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)。

1、采用原裝電致冷高性能SI-PIN探測(cè)器， 分辨率高， 探測(cè)范圍寬， 涵蓋ROHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。

2、配置先進(jìn)的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器， 比普通模擬多道信號(hào)處理器性能佳， 尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)分辨率高(如HG和CI等) 高達(dá)80MHZ的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間變短，尤其在測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性上有提高。

3、置高清攝像系統(tǒng)清晰觀察樣品，準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。