我們知道二次元影像測量儀在加上探針之后，可以對工件進行簡單的三維檢測。但是，大家知道三坐標(biāo)測量儀和加了探針的二次元影像測量儀有什么區(qū)別嗎？它們的區(qū)別就是三坐標(biāo)測量儀除了可以完成簡單的長寬高的三維測量，還可以對工件的復(fù)雜曲面等進行測量。

三坐標(biāo)測量機在對工件的一些參數(shù)測量時，更多的是通過對工件的掃描，從而達到測量工件的目的，那么三坐標(biāo)測量儀有哪些掃描方法呢，下面就簡單的分析一下。

　　三坐標(biāo)測量機簡稱CMM，自六十年代中期第一臺三坐標(biāo)測量機問世以來，隨著計算機技術(shù)的進步以及電子控制系統(tǒng)、檢測技術(shù)的發(fā)展，為測量機向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強有力的技術(shù)支持。    

　　CMM按測量方式可分為接觸測量和非接觸測量以及接觸和非接觸并用式測量，接觸測量常于三次元測量機械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。

　　以接觸式三坐標(biāo)測量機為例來說明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點的幾種方法，數(shù)據(jù)點結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。 掃描指借助測量機應(yīng)用PC-DMIS軟件在被測物體表面特定區(qū)域內(nèi)進行數(shù)據(jù)點采集。此區(qū)域可以是一條線、一個面片、零件的一個截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。 掃描類型與測量模式、測頭類型及是否有CAD文件等有關(guān)，狀態(tài)按紐（手動/DCC）決定了屏幕上可選用的“掃描”（SCAN）選項。 若用DCC方式測量，又具有CAD文件，那么掃描方式有“開線”（OPEN LINEAR）、“閉線”（CLOSED LINEAR）、“面片”（PATCH）、“截面”（SECTION）及“周線”（PERIMETER）掃描。 若用DCC方式測量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 “開線”（OPEN LINEAR）、“閉線”（CLOSED LINEAR）和“面片”（PATCH）掃描方式。 若用手動測量模式，那么只能用基本的“手動觸發(fā)掃描”（MANUL TTP SCAN）方式。 若在手動測量方式，測頭為剛性測頭，那么可用選項為“固定間隔”（FIXED DELTA）、“變化間隔”（VARIABLE DELTA）、“時間間隔”（TIME DELTA）和“主體軸向掃描”（BODY AXIS SCAN）方式。 

　　三坐標(biāo)測量機機不同的掃描的方式，在應(yīng)用方面有所不同，它們存在目的都是為了更好完成檢測的工作。