一鍵式影像測(cè)量?jī)x,圖像尺寸測(cè)量?jī)x,上海臺(tái)碩檢測(cè)儀器,186-1668-7110,影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量誤差
影像測(cè)量?jī)x是一種十分精密的儀器,所以稍微有一點(diǎn)不合理就會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的誤差。
上海臺(tái)碩檢測(cè)檢測(cè)儀器有限公司
一、誤差分類
那其中的誤差大致分為:偶然誤差、系統(tǒng)誤差和粗差。
偶然誤差是指當(dāng)其他條件都一致時(shí)進(jìn)行同一量的測(cè)量,發(fā)現(xiàn)誤測(cè)量的數(shù)值大小、符號(hào)都不相同,而且沒(méi)有規(guī)律可言。類似這種誤差是人力所不能控制的,或者說(shuō)人力所無(wú)法估計(jì)的誤差。這樣的誤差就是偶然誤差,有時(shí)候是沒(méi)辦法避免的。
系統(tǒng)誤差是指在其他條件一致時(shí)進(jìn)行同一量的測(cè)量,出現(xiàn)誤差,并且誤差是有規(guī)律的出現(xiàn)。這種誤差就是系統(tǒng)原因,是一種系統(tǒng)誤差。系統(tǒng)誤差可以通過(guò)科學(xué)的方法減弱或者改正。
粗差是指測(cè)試者粗心大意所造成的誤差,這種誤差是可以避免的,是一種常見的錯(cuò)誤操作。
然而這其中誤差的產(chǎn)生還有很重要的儀器原因,是由于儀器本身的結(jié)構(gòu)構(gòu)造所導(dǎo)致的誤差,下面就來(lái)解釋一下誤差產(chǎn)生的原因。
二、工作原理
幾何光學(xué)儀器中影像測(cè)量?jī)x是這十幾年來(lái)發(fā)展最快的一種類型。它是由光、電、機(jī)三者有機(jī)結(jié)合,組成精密的測(cè)量?jī)x器。基于光學(xué)投影原理再結(jié)合現(xiàn)代光學(xué)技術(shù)、計(jì)算機(jī)處理技術(shù),通過(guò)測(cè)量工件的邊緣輪廓、長(zhǎng)度尺寸、平面度、角度等一些數(shù)值,并用計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行計(jì)算,最后用表格、圖像等形式表達(dá)出來(lái)。
這種儀器能夠高效的測(cè)量工件,儀器本身又很精密,可以用于品質(zhì)檢測(cè)、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等領(lǐng)域。隨著科技發(fā)展自動(dòng)化的影像測(cè)量?jī)x也漸漸在工業(yè)普及,國(guó)內(nèi)好一點(diǎn)的儀器X/Y軸精度可達(dá)2+L/200μm,而Z軸精度可達(dá)5μm。像兆豐精密儀器中的龍門全自動(dòng)光學(xué)影像坐標(biāo)測(cè)量?jī)x就有這么高的精度。
其實(shí)影像測(cè)量?jī)x和投影儀的光學(xué)原理很類似,但是前者工件輪廓被CCD傳感器接收后要通過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理;而后者則直接將像投影到屏幕上。因此兩者在精度上就有著天然之別。另外影像測(cè)量?jī)x除配有底光、同軸光外,還配有環(huán)形光,用于前兩者失效時(shí)使用,光照十分充足。
三、誤差來(lái)源
影像測(cè)量?jī)x是基于光學(xué)原理的所以測(cè)量時(shí)要先對(duì)焦,然后對(duì)準(zhǔn)后讀數(shù)。讀數(shù)是通過(guò)光柵尺系統(tǒng),所以光照條件和光柵尺精度很重要。誤差就有以下來(lái)源:
1. 測(cè)量室溫度引起誤差
2. 光照條件變化誤差
3. 光柵尺誤差
4. 工作臺(tái)移動(dòng)誤差
5. 工作臺(tái)測(cè)量軸垂直度誤差
6. 顯微鏡軸與工作臺(tái)垂直度誤差
一般情況下只有溫度和光照條件還可以控制誤差,其他條件在儀器出廠時(shí)就已經(jīng)確定了,改變的可能性小。溫度會(huì)使得工件和光柵尺有熱脹冷縮的物理現(xiàn)象,所以一般將室溫控制在18℃--24℃以內(nèi),這樣就可以減少誤差。
對(duì)于光照的話只能使適合的光照,太暗或太亮都是不適合的,一般的測(cè)量?jī)x都能調(diào)節(jié)亮度,并且亮度調(diào)節(jié)范圍大調(diào)節(jié)均勻。
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