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臺(tái)碩大拼接閃測(cè)儀，型號(hào)參數(shù)可供選擇！

時(shí)間：2024-12-11 作者：臺(tái)碩檢測(cè)儀器

大拼接閃測(cè)儀是一種高效的測(cè)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車電子、半導(dǎo)體、鐘表、手機(jī)零部件等行業(yè)，以滿足這些行業(yè)對(duì)于高精度、高效率測(cè)量的需求。目前，我公司供應(yīng)大拼接閃測(cè)儀標(biāo)準(zhǔn)尺寸參數(shù)如下，僅供參考：

項(xiàng)目		參數(shù)
型號(hào)		TSE-432	TSE-542
測(cè)量范圍	拼接范圍	400*300mm	500*400mm
	單視野	82*55mm	82*55mm
Z軸移動(dòng)范圍		200mm
測(cè)量精度	有拼接	±(4.5+L/150)μm	±(4.5+L/150)μm
	無(wú)拼接	±3μm	±3μm
		*標(biāo)準(zhǔn)件為被測(cè)產(chǎn)品
光學(xué)鏡頭		雙遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭
圖像傳感器		2000萬(wàn)像素
軟件		基于機(jī)器學(xué)習(xí)的圖像輪廓匹配算法
		亞像素精度幾何測(cè)量算法
		非線性光學(xué)系統(tǒng)畸變校正算法
		多核、多 CPU、GPU 等圖像加速處理算法
外形尺寸		1100mm * 690mm * 1800mm	1200mm * 790mm * 1800mm
電源		AC 220V±10% 50Hz
環(huán)境要求		溫度(T)：20±2℃；相對(duì)濕度(RH)：30--80%